1.是借助精度為0.5m的電子水平儀，用位移法可檢測大理石平臺的直線度，用次方法可檢測大理石平臺的平面度，將檢測的結果經過算法換算，可得到大理石平臺的直線度和平面度的具體數(shù)值；其特點是精度不太高，但測量數(shù)據(jù)可靠，無“0”點漂移問題，特別適合于在線測量與檢測精密大理石平臺。

 

2.測量精密大理石平臺直線度的方法可以通過精度為0.1m的電容測微儀用位移法測量，其表頭的示值即為精密大理石平臺的直線度的誤差值；在此測量中，由于電感測微儀自身的“0”點漂移較嚴重，需經過長達24h的穩(wěn)定后，其數(shù)值才可信，故使得精密大理石平臺加工與測量間的銜接時間增長。

 

更高精度精密大理石平臺的加工必須有更高一級精度的檢測手段，目前常采用HP5528A或HP5529A動態(tài)校準儀，它的顯示精度為1nm，可檢測平面度、垂直度、直線度、時基即振動、角位移測量、對角測量等等。動態(tài)校準儀的檢測精度特別高，但由于其復雜的光學系統(tǒng)和復雜的調試程序，尤其是光具返回光束的光強和保證在80%以上，否則光束將被擋住，這對精密大理石平臺調試者來說